Acest site necesită browser-ul să fie activat JavaScript.
Vă rugăm să activați JavaScript și să reîncărcați această pagină.
Site-ul necesită browser-ul pentru a activa cookie-urile pentru a se autentifica.
Vă rugăm să activați cookie-urile și reîncărcați această pagină.
Fred StevieSecondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization, Paperback
la comenzi de peste 199 lei
Conform Termeni și condiții
Parteneriat cu producători autorizați
This book was written to explain a technique that requires an understanding of many details in order to properly obtain and interpret the data obtained. It also will serve as a reference for those who need to provide SIMS data. The book has over 200 figures and the references allow one to trace development of SIMS and understand the many details of the technique.
Senior Researcher, North Carolina State University
Am aprecia părerea ta! Evaluați acest produs
Nu există comentarii de la alți utilizatori.